冷熱沖擊試驗(yàn)箱是一種常見的實(shí)驗(yàn)室設(shè)備，其應(yīng)用領(lǐng)域廣泛，主要在電子儀器儀表、電工、電子產(chǎn)品、材料、電子元器件等行業(yè)檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)。而其中有一種高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱，主要是用來測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)高溫、低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，通過設(shè)備試驗(yàn)，可有效提升產(chǎn)品可靠性和進(jìn)行對(duì)產(chǎn)品的質(zhì)量控制。
    冷熱沖擊試驗(yàn)箱的操作分為預(yù)處理、初始檢測、試驗(yàn)、恢復(fù)、zui后檢測。
    一、預(yù)處理：將被測樣品放于正常試驗(yàn)大氣條件下，直到溫度穩(wěn)定。
    二、初始檢測：對(duì)照要求標(biāo)準(zhǔn)，在確定被測樣品符合要求后直接放入冷熱沖擊試驗(yàn)箱。
    三、試驗(yàn)：
    1、試驗(yàn)樣品應(yīng)按標(biāo)準(zhǔn)要求放置在試驗(yàn)箱內(nèi),并將試驗(yàn)箱(室)內(nèi)溫度升到點(diǎn)，保持一定的時(shí)間至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定，以時(shí)間長都為準(zhǔn)。
    2、高溫階段結(jié)束后，在5min內(nèi)將試驗(yàn)樣品轉(zhuǎn)換到已調(diào)節(jié)到-55℃的低溫試驗(yàn)箱(室)內(nèi)，保持1h或者直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定，以時(shí)間長都為準(zhǔn)。
    3、低溫階段結(jié)束后，在5min內(nèi)將試驗(yàn)樣品轉(zhuǎn)換到已調(diào)節(jié)到70℃的高溫試驗(yàn)箱(室)內(nèi)，保持1h或者直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定，以時(shí)間長都為準(zhǔn)。
    4、重復(fù)上述實(shí)驗(yàn)方法，以完成三個(gè)循環(huán)周期。根據(jù)樣件大小與空間大小，時(shí)間可能會(huì)略有誤差。
    四、恢復(fù)：取出試驗(yàn)樣品后，在正常試驗(yàn)大氣條件下進(jìn)行恢復(fù)，直至達(dá)到穩(wěn)定溫度。
    五、zui后檢測：對(duì)照標(biāo)準(zhǔn)中的受損程度及其它方法進(jìn)行檢測結(jié)果評(píng)定。